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梅特勒天平
超越XS系列分析天平
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XS DualRange 超越系列专业型分析天平

最大称量值

可读性

XS105 DualRange 分析天平

120 g

0.01 mg / 0.1 mg

XS205 DualRange 分析天平

220 g

0.01 mg / 0.1 mg

XS64 分析天平

61 g

0.1 mg

XS104 分析天平

120 g

0.1 mg

XS204 DeltaRange 分析天平

220 g

0.1 mg / 1 mg

XS204 分析天平

220 g

0.1 mg / 1 mg

梅特勒 METTLER XS DualRange 超越系列专业型分析天平
  创新的人体工程学设计,实现高效称量--异常快速地获得精确称量结果。
  应用:显示各种称量单位; 自由因子; 带有±符号显示的统计功能 ; 配方称量和计数; 密度测定
  超越系列XS天平为称量性能树立了新标准。革命性的SmartGrid网格秤盘,成功将称量室内气流的影响降低到最小。因此称量结果更加精确,并显著缩短稳定时间。
ErgoClips易巧称量组件,作为网格秤盘的卓越的附件,可以安全放置所有去皮容器,以达到最大称量效率。
  特征和利益
快速、稳定的称量结果: SmartGrid,革新性的网格秤盘,将室内空气气流干扰降至最低, 成功将称量室内气流的影响降低到最小,实现最快的称量结果显著降低天平的稳定时间.
人体工程学的称量系统: ErgoClips易巧称量组件, 极大地简化了您的特殊称量任务, 可用来放置圆底烧瓶、试管及称量舟.
清洁: 因为SmartGrid网格秤盘精密连接于称量室后壁,下部完全悬空而且防风罩能够完全拆除.可以前所未有方便的清洁天平.
触摸屏操作: 三种不同的显示屏设置, 实现用户友好称量. 通过触摸屏快速调用菜单.
称量的灵活性: 如果空间过小, 可以将操作终端放置在天平旁边或上面. 为更方便的读取数据, 可以调节显示屏的角度
  XS205 DualRange 分析天平
 

XS204 DeltaRange 分析天平

最大称量值

220 g

可读性

0.1 mg / 1 mg

Minimum weigh (typical acc. USP)

120 mg

Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2)

80mg+1x10-4·Rgr

去皮范围

0 .. 220 g

最大称量值重复性(sd)

0.7 mg

线性

0.5 mg

偏心负载

0.3 mg

内部砝码校准

FACT,全自动校准技术

外部砝码校准

用户砝码

灵敏度精度

0.0004 %

温度灵敏度系数

0.00015 %/°C

灵敏度稳定性

0.0002 %/a

稳定时间

4 s

Sensitivity offset

5x10-6·Rnt

接口

RS232C

防风罩可用高度

235 mm

秤盘尺寸

70 x 80 mm

标准特性
背亮式、图形显示触摸屏
FACT温度漂移的全自动内校
称量过程适配器,优化天平在不同环境下的操作性能
内置RS232接口;第二接口选件插槽
可灵活设置的玻璃防风罩
可更换的终端保护罩
下挂称量的专用挂钩
AC/DC电源适配器可以提供:交流电100-240V, -15%/+10%, 50/60 Hz, 0.8 A或者直流电12VDC, ± 5%, 2.25 A (电源过载保护)
  所有型号均提供
通过因特网更新天平操作软件; 显示不同称量单位; 在整个称量范围内称皮重; 适应称量环境; 适合于各种称量类型
确定固体、液体和粘状物的密度; 配方称量和统计功能; 包含± 和 % 显示的统计功能; 计算系数; 字母数字式样品识别方式; 7种语言(英语、丹麦语、法语、意大利语、西班牙语、俄语、日语)
  利用天平进行密度测定 -- 使用浮力法进行密度测定
在许多领域使用密度测定来辨别产品或材料的某些特性。 密度测定应用不仅为数众多,而且常常与许多具体要求有关。梅特勒-托利多公司提供了各种硬件和软件选件,通过使用比重测定法来测定密度。
密度测定借助于阿基米德原理 (浮力法)来实现的, 这也是天平的密度测定组件使用的方法。阿基米德原理规定:浸在液体中的物体会明显的失重,失重量等于物体排开的液体的重量。这种方法可以测定固体、粘性和粘稠物质以及液体的密度。
天平的密度测定组件
天平的密度测定组件使测定过程的两个步骤变的简捷而有效。
该密度组件包含:
用于液体的玻璃容器,和容器支架。
用于漂浮或浸没固体的无腐蚀支架等等。
通过简单地更换用于密度组件的XP或XS天平的秤盘,即可立即测定固体和液体的密度。密度测定组件可以测定固体、多孔固体, 粘性和粘稠物质以及液体的密度。
您可以利用XP和XS天平的软件计算和记录密度值。您可以将测试结果传送到计算机,或者用打印机进行打印输出。在任何一种情况下, 浮力法测定密度比较简单,并可以应用在普通天平上。
集成密度软件解决方案
XP和XS天平具有内置密度测定应用程序,可以用来测定固体、多孔样品和粘稠物质以及液体的密度。
能以0.1%的精度输入温度
样品标识
输入液体密度测量块的体积
随温度变化而变化的乙醇和水的集成密度表
以7种语言 (en, de, fr, it,es, ja, ru)进行记录
天平显示屏上清晰的菜单指导
对每种测量方法的独立统计
快速、简单、方便地处理
再现性高达0.001 g/cm3
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